服务热线

15069945468
网站导航
技术文章
当前位置:主页 > 技术文章 > 覆层测厚仪与涂层测厚仪对比的优点分析

覆层测厚仪与涂层测厚仪对比的优点分析

时间:2018-05-07 点击次数:470
   现实生活中对材料覆盖层的测量,已逐渐引入微机技术,覆层测厚仪采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化发展。测量的分辨率已达0.1微米,精度可达到1%。它适用范围广,量程宽、操作简便且价廉,是工业和科研使用zui广泛的测厚仪器。而且是无损测量,既不破坏覆层也不破坏基材,检测速度快,能使大量的检测工作经济地进行。其基本原理是结构由磁钢,接力簧,标尺及自停机构组成。磁钢与被测物吸合后,将测量簧在其后逐渐拉长,拉力逐渐增大。当拉力刚好大于吸力,磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小即可获得覆层厚度。

  覆层测厚仪是研发的新产品,与之前涂层测厚仪相比有以下主要优点:

  1. 测量速度快:测量速度比其它TT系列快6倍;

  2. 精度高 :产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上*能达到A级的产品,其精度远高于时代等国内同类.比EPK等进口产品精度也高;

  3. 稳定性:测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品;

  4. 功能、数据、操作、显示全部是中文;

  对材料表面保护、装饰形成的覆盖层,如涂层、镀层、敷层、贴层、化学生成膜等,在有关国家和国际标准中称为覆层(coating)。 覆层厚度测量已成为加工工业、表面工程质量检测的重要一环,是产品达到优等质量标准的必备手段。为使产品国际化,我国出口商品和涉外项目中,对覆层厚度有了明确的要求。

  覆层厚度的测量方法主要有:楔切法、光截法、电解法、厚度差测量法、称重法、X射线荧光法、β射线反向散射法、电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测,测量手段繁琐,速度慢,多适用于抽样检验。

  X射线和β射线法是无接触无损测量,但装置复杂昂贵,测量范围较小。因有放射源,使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

2020 版权所有 © 临沂泰斗检测仪器有限公司  备案号:  GoogleSitemap 管理登陆 技术支持:化工仪器网

地址:临沂金鼎国际1916室 传真:86-0539-7300315 邮箱:2846263439@qq.com

关注我们

服务热线

15069945468

袁经理

18669303095

扫一扫,关注我们