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分享五个校验覆层测厚仪的方法

时间:2018-06-06 点击次数:354
   覆层测厚仪如何校准?下面给大家总结了几点覆层测厚仪的校验方式,希望能够帮助到大家。

  (1)实际测量时,应当选用与待测试件基体相同的材料作为校准仪器用的基体。

  (2)需注意所选用的基体的表面粗糙度与被测件基体的表面粗糙度尽可能一致。

  (3)对基体金属zui小厚度要求也是必须注意的测量条件。每一种仪器甚至每一种仪器中的每一种探头都有各自不同的基体金属的临界测量厚度。大于这个厚度,测量就不受基体厚度因素的影响。

  (4)每一种仪器甚至每一种仪器中的每一种探头对被测件的基体zui小面积也是有要求的,大于这个面积,测量就不受基体面积因素的影响。

  (5)基体表面曲率半径对测量影响也较大。因为仪器都规定了zui小曲率半径,在实际测量时,为了减少测量误差,应当选择与待测试件具有相同曲率半径的相同材料来作为校准用基体,与校准厚度片一起对仪器进行校准。

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