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leeb451袖珍式粗糙度仪表面粗糙度仪/表面光洁度仪/粗糙度测试仪/测量仪

型号:

产品时间:2016-01-19

厂商性质:其他

简要描述:

leeb451袖珍式粗糙度仪表面粗糙度仪/表面光洁度仪/粗糙度测试仪/测量仪适用于生产现场,可测量多种机加工零件的表面粗糙度,根据选定的测量条件计算机相应的参数,在液晶显示器上清晰地显示全部测量结果。
袖珍表面粗糙度仪是专用于测量被加工零件表面粗糙度的新型智能化仪器。

详细介绍

leeb451袖珍式粗糙度仪表面粗糙度仪/表面光洁度仪/粗糙度测试仪/测量仪

   leeb451袖珍式粗糙度仪表面粗糙度仪/表面光洁度仪/粗糙度测试仪/测量仪适用于生产现场,可测量多种机加工零件的表面粗糙度,根据选定的测量条件计算机相应的参数,在液晶显示器上清晰地显示全部测量结果。
  袖珍表面粗糙度仪是专用于测量被加工零件表面粗糙度的新型智能化仪器。该仪器集当今微处理器技术和传感技术于一体,以先进的微处理器和优选的高度集成化的电路设计,构成适应当今仪器发展趋势的超小型的体系结构,可以完成粗糙度参数的采集、处理和显示工作。
  适用于加工业、制造业、检测、商检等部门,尤其适用于大型工件及生产流水线的现场检验,以及检测、计量、商检等部门的外出检定。

技术参数
测量参数:Ra、Rz、Rq、Rt
测量范围:Ra:0.05-10.0μm
测量范围:Ra:0.05-10.0μm;  Rz:0.1-50μm
取样长度:0.25mm、0.8mm、2.5mm;
评定长度:1.25mm、4mm、5mm
扫描长度:6mm
示值误差:≤±15%
示值变动性:<12%
传感器类型:压电晶体
电源:3.7V锂离子电池
工作温度:0oC- 40oC
重量:200g
外型尺寸:106×70×24mm

 参数定义:

参数 定义 执行标准 说明 
Ra  算术平均偏差 ISO4287:1998  
 
Rq 均方根偏差 ISO4287:1998  
 
Rz 轮廓zui大高度 ISO4287:1998 等于旧Ry 
Rz(JIS) 十点高度平均值 ISO4287/1:1984 旧Rz 
Rmax 轮廓zui大高度 DIN4768:1990  
 
Rp zui大轮廓峰高 ISO4287:1998  
 
Rv zui大轮廓谷深 ISO4287:1998  
 

参数 定义 执行标准 说明 
Rp(ASME) zui大轮廓峰高 ASME B46  
 
Rp(ASME) 平均轮廓峰高 ASME B46  
 
Rt 轮廓总高度 ISO4287:1998  
 
R3z 第三峰谷高度算术平均值  
  
 
RPc 峰计数 ASME B46  
 
Rmr 轮廓长度支承率 ISO4287:1998  
 
RSm 轮廓单峰平均间距 ISO4287:1998  
 

参数 定义 执行标准 说明 
A1 材料填充轮廓峰顶区域 ISO13565-2:1998  
 
A2 润滑剂填充轮廓谷底区域 ISO13565-2:1998  
 
Vo 油剂保留量  
  
 
R 粗糙度图形的平均深度 ISO12085:1996  
 
Ar 粗糙度图形的平均宽度 ISO12085:1996  
 
Rx 粗糙度不规则度的zui大深度 ISO12085:1996 
 

 

 


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